干涉测量法是
光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高
精度的
机械和热变形。 作为一个典型示例,在
VirtualLab Fusion中借助非
序列场追迹,构建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了
光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
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fH7o,U| 81|Xg5g)b 元件倾斜引起的干涉条纹 {>cO&eiCt t>T |\WAAL
bG0t7~!{E _KkLH\1g$ 元件移动引起的干涉条纹 A8R}W=
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