干涉测量法是
光学计量学的重要技术。 它被广泛用于例如,表面轮廓、缺陷、高
精度的
机械和热变形。 作为一个典型示例,在
VirtualLab Fusion中借助非
序列场追迹,构建了具有相干
激光光源的Mach Zehnder干涉仪。 证明了
光学元件的倾斜和移位如何影响干涉条纹图案。
I*
JSb9r 0bMbM^xV6
w259': {cYbM[}U" 建模任务 {&Sr<d5 WPNvZg9*c
Fm.IRu<\` FkIT/H 元件倾斜引起的干涉条纹 [;i3o?\_I vn=0=(
GI*2*m!u c:G0=5 元件移动引起的干涉条纹 8U&93$
_S#3!Wx
EY
9N{ IDv|i.q3 走进VirtulLab Fusion !F*CE cB
,!g%`@u
cY\"{o"C yE),GJ-m\< VirtualLab Fusion工作流程 nHi6$}
I 3P2L phW wpPCkfPyL 0(dXU\Y t12 xPtN1
*6%r2l'kZ N,NEg4 q[ VirtualLab Fusion技术 S~LTLv:>
0xg6
('.r_F