G%u9+XV1# )
uP\>vRy
@6o]chJo DG;y6#|p 衍射式分束器被广泛用于
光学应用中,以产生规则和不规则的图案。所应用的衍射方法允许薄而轻的元件,但也导致它们对入射
光线的
角度高度敏感。在这个例子中,我们展示了这种效应对给定微
结构设计的反射式5×5规则分束器的影响。该设计在正入射情况
优化,其性能在不同入射角下被评估,并计算出相应的衍射图案。之后,针对不同的入射角对设计进行了优化,例如通过改变微结构的高度。
u&QKwD Uh 7t-Lz|
$" 建模任务 f c6g
(bn
Zy0
8O1K[sEjui GJ'spgz 微结构 vuz4qCQ
6gOe!mm
5,b]V)4
wb"RB
A9 I_ "Z:v{ :46h+?
!F!3Q4 GIHpSy`z '~-IV0v9 微结构组件的配置 j
nwQV
^&c$[~W
r{+aeLu 8
|h9sn;P - Microstructure组件由一个平面组成,在这个平面上应用具有Channel Operator with a Complex Surface Response。
Zzd/K^gg - 在Channel Operator的设置中,微观结构是由提到的Complex Surface Response定义的,要么是理想的,要么是包含真实结构的Stack,也就是高度轮廓。
\Rk$t7ZH - 在这个用例中,Sampled Grating被用来描述预期的高度轮廓,并应用在基面的背面。
"EftN5?/ - 用于通过堆栈传播的
精度系数可以根据具体任务进行调整。在这个例子中,为了对表面进行充分的采样,使用了一个2的系数。
<R1X\s. a}.Y!O& 总结-组件…
#w3ru6*W K}I0o!(#
\k&1*b?h }WP-W
<d$A)S};W Sw!
j=`O 监测器平面上的衍射图案 fB#XhO
u39FN?<^
?9U:g(v m7 XjP2 监测器平面上的衍射图案 StQ@g
MguL$W&l
8@7AE" -gKpL\ 分光器是在正入射下设计的,对于小角度(<10°),它提供了均匀的分光阶数。然而,如果𝜃增加到15°,由于路径长度的差异,零阶的效率超过了其他阶。在实践中,如果这样的设备用于更高的角度,微结构的高度将被调整以补偿这种影响。
,8SWe P79R~m` 高度缩放调制 +0#JnqH"
y1(P<7:t?
aV|k}H{wt ^LO]Z 探测器平面上的衍射图案--有校正的高度 ?6:cNdN
8gpB z'/,
FP;":i RL .98.G4J> VirtualLab Fusion技术 Lpm?#g uR
*h,3}\