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VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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+j{Y,t{4 ET:T7 任务描述 +-BwQ{92[:
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mnjs(x<m 83 I-X95 VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 PcC/_+2
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J;}3t! j*400 VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 Qz,|mo+
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&~~wX,6+ S6xgiem 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
uO6{r v\ =*Z5!W'd 效率的统计分布 ;_O)p,p
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0w=R_C)s b2C`g]ibQ 光栅公差 lg$zGa? % 0T+t.
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p)2d=# 最低效率的级次效率 !w39FfU{
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-0C@hM,wm k*mt4~KLT8 随机分布类型 ! RW
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