feT.d +Fd 在
VirtualLab Fusion中,当研究制造偏差对
优化系统的影响时,可以使用随机变化的
参数运行。根据制造
工艺的不同,不同参数的偏差可能遵循不同的随机分布规律。虽然参数运行的默认随机模式假定均匀分布,但在此用例中,我们想展示如何使用可
编程参数运行对
公差中涉及的每个参数应用不同的随机分布。作为说明,我们选择了锯齿
光栅的例子,为此我们研究了负一传输级次的最低效率。
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G8@LH FJIo]p 任务描述 7,2#0Z`ge
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hOr4C4 VirtualLab Fusion中的系统 – 元件 BUU ) Sz
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xX\A&9m S!g0J}.z VirtualLab Fusion中的系统 – 分析器 HC
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o(Q='kK !UX7R\qu| 可编程参数运行 X~rHNRIU
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f= 33+8I P+(Ys[J3 可编程参数运行选项 %VGQ{:
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Dlx-mm_ cE3V0voSw1 分布类型 2VgVn,c
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3.?B') jHM}({)- 在均匀分布的情况下,点数将在允许的范围内均匀分布。正态分布和截断正态分布都假设一个点被取的概率为高斯分布。
标准正态分布和截断正态分布之间的区别在于,在截断分布的情况下,不会取参数范围外的值,而是在范围内生成一个新数。
|&\cr\T\r c3|/8 效率的统计分布 ufXU
F1b~S;lm
cB2jf</ Kz9h{Tu4 光栅公差 h2mU C:P.+AU"`
~n9- <dX7{="& 最低效率的级次效率 nCSXvd/
o,DI7sb
a+p_47 xa ?KXgG'!! 随机分布类型 4e9'yi
m;m4/z3U