如果採用 Code V 軟體,那麼可以用 SAGF 函數計算面深(Sag)量: rQ$Jk[Y
SAGF(surface_num, zoom_pos, x_coord, y_coord) - Sag of the designated surface at x_coord, y_coord
O^I%Xk
6j=a
如果想知道的是某一非球面的型狀是否能由干涉儀測量,那麼 Code V 提供兩個函數: x2 m
A
8CN0Q&|
(1) 使用 Zygo 干涉儀 7d'gG[Z^^
函數 @VFA(zoom #, surface #, height) 1
Ll<^P
Surface is testable for @VFA < 1.0 a>/jW-?
Surface is not testable for @VFA > 1.0 parc\]M
K)8N8Js(
(2)使用 QED 干涉儀 F` gQ[
函數 @SSIa(surface #, zoom #, height) oB]
0 <= @SSIa < 0.5 - surface is readily testable *WX,bN6Ot
0.5 <= @SSIa < 1 - surface is marginally testable B:QAG
@SSIa >= 1 - surface is difficult to test