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8&2W^f5 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 D1g
.Fek5 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 IP3%'2}- 常熟黉论教育咨询有限公司 ,MRAEa2 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 B4d\4S_r% 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 nPh|rW= 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) p#DJow 讲师:讯技光电高级工程师 s4uYp 课程简介: Wd78 bu| 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 co-dq\P |y}iOI 课程大纲: 8n`O{8:fi 1. 杂散光介绍与术语 O>)Fl42IeD 1.1 杂散光路径 ehe;<A 1.2 关键面和照明面 o1B8_$aYgc 1.3杂光内部和外部杂散光 =MCQNyf+ 2. 基本辐射度量学-辐射 "S ~(|G 2.1 BSDF及其散射模型 t=B>t S.hO 2.2 TIS总散射概念 r'5~4'o$ 2.3 PST(点源透射比) qo^PS 3. 杂散光分析中的光线追迹 6^vseVx 3.1 FRED软件光线追迹介绍 +*AdSzX 3.2构建杂散光模型 m(6SiV=D9 • 定义光学和机械几何 ~[H+,+XLY+ • 定义光学属性 =k+nC)e 3.3 光线追迹 )CAEqP
• 使用光线追迹来量化收敛速度 dd&n>A3O= • 重点采样 ?^l{t4 • 反向光线追迹 Rx,Qw> # • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 P9/Bc^5' • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 n +R3 • 杂散光对MTF的影响 c@&-c [k^W 4. 来自RMS表面粗糙的散射 T|fmO<e*n 4.1来自表面粗糙的散射 Rx\.x? & • RMS粗糙度与BSDF的关系 =mWr8p-H • 由PSD推导BSDF %
bpVK~z • 拟合BSDF测量数据 oMNgyAp^ M`jqUg 4.2 来自划痕的散射 +&j |