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M43n 课程编号: CS210060杂散光分析与控制技术 ('hr;s= 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 上海讯稷光电科技有限公司 ]+@ @{?0 常熟黉论教育咨询有限公司 Oe:+%p 授课时间: 2021年7月28日(三)-30日(五)AM 9:00 - PM 16:00 7O',X Y 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路819号中暨大厦18楼1805室 =]X_wA;% 课程费用:4200(老师&博士生:2800 RMB;学生:1800RMB) VEj-%"\ 讲师:讯技光电高级工程师 x|g>Zd/n 课程简介: j*B,b4 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,系统杂光测试,杂光分析与软件,BSDF数据,杂光抑制设计等。 本课程介绍了空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。仿真实例:RC望远镜、可见红外CT光谱仪的杂散光分析,具体会突出冷反射计算的公式积分法,在以往的方法中我们通过计算点列图来计算,但存在诸多的缺陷,如环境与镜筒温度变化、计算量大等缺点,我们从实际的积分公式出发。另外我们会公布我们新开发的散射模型库。 __dSEOGoe 5?9K%x'b 课程大纲: dT?/9JIv 1. 杂散光介绍与术语 b*i_'k}*<g 1.1 杂散光路径 >rJ9^rS 1.2 关键面和照明面 JVy- Y 1.3杂光内部和外部杂散光 tbG^9d 2. 基本辐射度量学-辐射 'M8wjU 2.1 BSDF及其散射模型 t@m!k+0 2.2 TIS总散射概念 Osz:23(p 2.3 PST(点源透射比) F6^Xi"R[ 3. 杂散光分析中的光线追迹 {"k}C2K'r 3.1 FRED软件光线追迹介绍 olda't 3.2构建杂散光模型 " iAwD8- • 定义光学和机械几何 ,Q:Ylc8 • 定义光学属性 j]Y`L?!Q 3.3 光线追迹 ~U"puEftbs • 使用光线追迹来量化收敛速度
.nh }f}j • 重点采样 c~ x • 反向光线追迹 mu`:@7+Yp • 控制光线Ancestry以增加收敛速度 }^3CG9% • 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 Y=0D[o8 • 杂散光对MTF的影响 b`:n i
4. 来自RMS表面粗糙的散射 ~gZ"8frl 4.1来自表面粗糙的散射 +OEqDXR+_ • RMS粗糙度与BSDF的关系 sKDsps^$ • 由PSD推导BSDF .Y`;{) • 拟合BSDF测量数据 X$mCn#8m /<zBjvr%% 4.2 来自划痕的散射 ,,
S]_S 5. 来自颗粒污染的散射 fib#)KE 5.1 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) :qlcN @_ 5.2 颗粒密度函数模型 *DBm"{q%&k 案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 TQhu$z< |