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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 1[`<JCFClc y}HC\A77uD 关于此用例 9Ol_z\5 • 需要以下工具箱 ^b %8_?2m - 基本工具箱 NF!1) • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) "%t`I) • 在此处获得免费试用版 & }}WP:U 此用例展示了… 5z ^UQq • 如何构建GRIN透镜 ]!aa#?Fc • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 ONiI:Z>% S\;.nAR k#*yhG,]' GRIN透镜的构建 /*^|5>-`i1 !cwVJe S5KYZ
W !F#aodM1N GRIN透镜:GRIN介质 ;w(1Ydo Ef!p:HBJ O
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_lv:"/3R lkg*AAR?' 系统设置:探测器和连接 b|o!&9Yyr · 探测器说明: zN)\2 − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 lY*]&8/= ]\,uF8gg) T}Vpy` ZCFf@2&z8 仿真结果:光线追迹分析 A=d$ir
K[ |;m`874 "IS^ajaq 仿真结果:场追迹分析 $YY)g$ CN~NyJL H
uo'31V0 系统设置:寻找像面 ZNpExfGEU tlLn
Guw|00w,Q$ 0&IXzEOr 仿真结果:光线分析和场追迹分析 uE#,c\[8 t`YZ)>Ws  JOx,19r
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