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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 .~8IW,[ Nb{oH +$b 关于此用例 &l|B>{4v • 需要以下工具箱 q`;URkjk - 基本工具箱 |b7>kM}" • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) *XzUqK • 在此处获得免费试用版 <~8W>Y\m 此用例展示了… K<_H`k*x • 如何构建GRIN透镜 L,X6L @Q • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 )'<zC
n#]G!7 ]X _& GRIN透镜的构建
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w@N z?YGE iR/} GRIN透镜:GRIN介质 i|d41u;@ XJ NKM~ {5z?5i ?D
wLUmRo56aR =XS'V* 系统设置:探测器和连接 02S(9^= · 探测器说明: |$ 0/:* − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 I5"=b}V5 kI;^V O@Kr}8^, -jw=Iyv 仿真结果:光线追迹分析 %E!0,y,: p]g/iLDZ bU,&|K/ 仿真结果:场追迹分析 &]c9}Ic ?3, *
4'8.f5 系统设置:寻找像面 Y\x
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J)[(4R> tr} $82Po 仿真结果:光线分析和场追迹分析 *ZEs5`x 5m3sjcp_  y|mR'{$I
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