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构建具有渐变折射率(GRIN)透镜的成像系统,并对该成像系统进行光线追迹与场追迹分析。 (<t_Pru E{xVc;t 关于此用例 6< J
#^ 6 • 需要以下工具箱 !
ueN|8' - 基本工具箱 "yziXT@V • 此用例由VirtualLab Fusion生成(Build 7.0.0.35) R)?{]]v • 在此处获得免费试用版 ln*icaDqf 此用例展示了… x)rlyjFM • 如何构建GRIN透镜 sGDV]~E • 如何对其进行光线追迹和场追迹分析。 C`rLj5E% @Fv=u k?BJdg)xJ GRIN透镜的构建 WlB'YL-`g ;cQW sTfT /z7VNkD gV1[3dW GRIN透镜:GRIN介质
+1C3`0( T&Xl'=/ `"yxdlXA
X#xFFDzN c;f!!3& 系统设置:探测器和连接 pi( -A · 探测器说明: LVIAF0kX − Electromagnetic Field Detector 用于探测图像 Eu}b8c ;:S&F Z.L?1V8Q1 x"kjs.d7[< 仿真结果:光线追迹分析 GJi~y vq*Q.0 M+ rr`;W}3 仿真结果:场追迹分析 C#rc@r,F %OR|^M
Mvj;ic6iK 系统设置:寻找像面 -b&{+= ^c @r(Z%j7
#H [Bb2(j #BVtL :x@ 仿真结果:光线分析和场追迹分析 XKL3RMF9r *YTo{~  QB!~Wh
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