左图：角分辨光散射测量仪ALBATROSS；右图：532 nm滤光片在不同波长下的ARS分布。
Pn!~U] A$% 系统简介 _?-o Pb
<AU *lLZ ALBATROSS（3D-Arrangement for Laser Based Transmittance, Reflectance and Optical Scatter measurement ）是一个大型的测量样本反射光，透射光，以及散射光分布的实验室测量系统。其特点是对角度的灵敏度高，并且该系统可以测量三维空间中的散射分布。被测样本包含光学和非光学表面以及其他光学材料和光学元件。其光源系统为变频OPO激光，也可测量光散射的光谱特性。 [ar0 {MPYd <,CrE5Pl 特征及技术参数 xMr,\r'+
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,4\ - 可测量参数：散射光（角分辨散射ARS，双向反射分布BRDF， 'K4FS(q - 双向透射分布BTDF，散射损耗），θ-2θ测量，反射，透射。（3D） a``|sn9 - 入射光与探测器可共面或异面。 ~| j
eNT - 入射角，散射角（方位角和极角）以及光源的偏振态均可调整。 tp`1S+'~j - 可对样品进行扫描。 M\{n+r -m - 动态范围： 13个数量级。 "3^tVX%$\[ - 最低ARS级别：5×〖10〗^(-8) 〖 sr〗^(-1)。 [wQ48\^ - 对粗糙度的最小分辨率：< 0.1 nm 。 u Z6krI - 波长范围：225 nm 至 1750 nm (光谱带宽<0.05 nm)。 lpG%rN! - 样本规格：最大尺寸直径700mm。 y,5 qY}P+ - 方便操作的测量及分析软件。 "{~5 QO - 可分析值： 粗糙度，PSD等。 H,} &=SCk )-
W 1Wtom 应用 u"h/ERCa
xr'1CP 对表面，薄膜以及材料性质进行表征和分析 @v2<T1UC - 产品质量检测。 0O"W0s"T# - 光学性能分析。 gsL=_#
? - 粗糙度分析。 :|;@FkQ rpKZ>S|7+)
7}&:07U QQ：2987619807 HoPpUq5,
