Essential
Macleod是一套完整的
光学薄膜分析与设计的软件包,它能在任一32位、64位微软窗口环境操作系统下运行(除了Windows RT), 并且具有真正的多文档操作界面;它能满足光学镀膜设计中的各种要求;既可以从头开始设计,也可以
优化已有的设计;可以模拟设计生产中的误差,也可以导出薄膜的光学常数,是当今市场上最完善的薄膜设计及分析软件。
J)-x!y> 4.t-i5 模块:Core模块+5个附加模块
H/M@t\$Dc T6=u P)!K Core模块
N~'c_l ;:NJCu G Macleod核心模块是软件的最低配置,包含设计编辑器,数据、目标编辑器,输入/输出,材料管理,性能计算,优化和综合,和其它软件或硬件的数据交换,导纳轨迹,电场,辅助设计等,是整个软件包的基本构架。
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4o[{>gW Core模块功能
H qx-;F~0 F:S}w 效能计算
o`-msz UkFC~17P Essential Macleod 提供了整组完整的效能计算。除了一般反射和透射计算外,也包括沉积密度、吸收,椭圆
参数,超快参数 (群组延迟、群组延迟色散、三阶色散)和多光色散,也可以进行色彩计算。公差的计算是分辨设计对微小厚度变化的灵敏度。
{)sdiE A.w.rVDD 颜色计算
Z *x'+X 7@W>E;go 颜色计算包括色度坐标、显色指数、色纯度、主导波长、相对色温。图形包括色度坐标图、色调、用户自定义图。包括CIE 1931 和 1964 配色函数在内的许多标准
光源选择是预先定义好的,而用户可以定制你所需要的参数的其它参数。可以根据导入的透射及反射数据计算作为波长函数的颜色参数,也可以作为目标进行优化。
o }m3y l.M0`Cn-% 设计和分析工具
3=oDQ&UFt CU!Dhm/U 包括导纳图,电场分布,等效折射率,吸收分布,应力,光的散射、特性包络、消偏振边带滤波器设计和诱导透过率。
scV5P Uq ^U/O!GK 提取工具
pMM8-R'W- 'LDQgC*% n & k 提取工具提供了由量测测试薄膜的反射、透射频谱数据以决定薄膜或基底n 与k 的方法。
_|`S3}q|d ?}Y]|c^W 反演工程
p5*EA
x x]j W<A 主要采用Simplex 局部优化方法,根据已镀膜的设计结构和
光谱测试数据(至少一种),来确定其真实膜系结构及其与设计的差别。
4_ML],. TWX.D`W 公差
n+ M <\ 8 LCb+^ Essential Macleod 的公差能力允许你探查设计相对于制造误差的灵敏度,可以比较不同的设计以挑选出最优者。
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_:A0 Tp2.VIoQ= 细化与合成
<F'\lA9 #AY&BWS$ Essential Macleod提供了6个优化和2个合成工具,膜层可以锁定或关联(膜层关联是更先进的分组形式可以把不连续的膜层关联在一起优化),堆积密度包含在细化工具下的简单下降法里面(可对折射率优化)。优化过程可以加入如选择的膜层的总厚度等不同的限制条件。Optimac和needle Synthesis方法可以优化多层膜,可加入多种材料合成优化。Context允许使用替代材料优化。
{P-): apn*,7ps65 图表
Q+{n-? : 0=$T\(0g Essential Macleod包括标准图片、动态图(参数的变化效应可立即看到)、三维图。
h{qgEIk& r.U`Kh]K 导入与导出
#O&8A \{NO?%s0p 剪贴板支持与其它应用程序的导入与导出数据,还可以导出数据到
光学系统软件中如FRED、VirtualLab、Zemax、Code V。
o2ECG`^b 7d\QB(~ Runsheet模块
/gas2k==^ @2#lI 这个工具可设计镀膜制程,包含机器配置编辑器以及跑单生成器。
R.3q0yZ
wF ~}Pfu 机器配置编辑器
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]U %z$#6?OK^ 机器配置中贮存了特定镀膜机的详细设置,监控系统,入射角,材料,监控
芯片,加工因子(包含随光源损耗变化的动态加工因子)。
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Runsheet
1\.pMHv/ w32y3~ 使用者可使用跑单生成器对既定的机器配置,进行镀膜设计的监控规划。该工具除了可同时具备光学与晶体监控功能外,还具备诸如动态加工因子和系统带宽等高级特性。
J[kTlHMD 0*v2y*2V •对反射、背向反射和透射监控计算光学信号
7}mFL* •当膜层沉积时,动态加工因子(Dynamic Tooling Factors)可以不同
2`-Bs •使用偏移和放大控制可以使信号数据缩小或放大到用户自定义范围
[D1Up •对每一膜层,监控波长、带宽、监控光谱、晶控或光控都可以用户自定义
B-mowmJ3dg •在镀膜的任何阶段,监控芯片可以更换
\{YU wKK/A •多种配套的格式输出
Uw:"n]G]D? •提供图片和表格的监测数据可以输出到用户自定义报告格式
n&!-9:0 G+m }MOQP7 Simulator模块
Pzem{y7Ir ;F Eqe49 对于公差问题, Simulator 通过蒙特卡罗(Monte Carlo)法在实际模型控制过程的扩展来进行解决。通过一个由 Runsheet 创建的控制计划, Simulator 可模拟薄膜淀积控制,引入随机和系统效应,例如信号噪声,加工因子的变动,封装密度误差等等,以及显示这些参数对于镀膜制程的最终模拟结果的效应。
2&5K.Ui% GtHivC Monitorlink模块
lLIAw$ C_Wc5{ Monitorlink提供将Runsheet连结到一个淀积控制器的额外软件。一个独立的程序与控制器直接连接,而且一个 Runsheet 的扩展也赋予其产出和编辑淀积程序的功能。
uw8f ~:LT VStack 模块
cH)";]k*- H"F29Pu2 VStack 是一种计算与优化的工具﹐它也能计算这些系统中斜射光的效应。当光束斜入射时,初始为p- 偏振态的
光线最终会以p - 偏振态从系统出射。同理,原本是s - 偏振态光也会以p - 偏振态出射,我们称此为偏振泄漏 (polarization leakage) 现象。VStack 能计算泄漏的大小而且提供泄漏元件的 Delta 值。
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