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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 d 8o53a]  
     Di5(9]o2  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 3Q By\1h.  
    Pm{*.AW1  
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    1. 案例 C$yq\C+I  
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      ,*svtw:2')  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 G"SBYU  
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    1. 系统构建模块 =8{WZCW5  
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    G$M9=@Ug  
    2. 组件连接器 Nw_@A8-r  
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          U7 @AC}.+  
    几何光学仿真 w'Tq3-%V  
     iBg3mc@OO  
    以光线追迹 H}}$V7]^),  
     d3Mva,bw<  
    1. 结果：光线追迹 W_|0y4QOo  
    4u;9J*r4  
    -Z-f1.Dm5  
          r=uN9ro  
    快速物理光学仿真 dihjpI_  
     bUwn}_7b  
    以场追迹 =8Jfgq9E  
     eV^d6T$  
    1. NA=1.4时的光栅成像 1T&Rc4$Sn7  
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     ;bzX% f?|G  
    v X~RP *  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 <W8t|jt  
       /^SAC%PD  
    n.MRz WJpZ  
    >SF Uy\3  
    3. NA=0.5时的光栅成像 I=)hWC/  
       p9!"O  
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    文件信息 f5*k7fg  
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    +j_ ;(Gw7  
     f 3V Dv9(  
    QQ：2987619807 gN8hJG'0  
     
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