切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 2032阅读
    • 0回复

    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    6794
    光币
    28119
    光券
    0
    只看楼主 正序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 +Hm+ #o  
     s poWdRM2  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 M b /X@51  
    U!-+v:SF  
    2 vJ[vsrFv  
     #Ot*jb1  
    1. 案例 IP4b[|ef  
    ~IJZM`gN  
     >cr_^(UW&  
      <:yq~?  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 1p "EE~ v  
     2ZzD^:V[}  
    1. 系统构建模块 ?M{ 6U[?  
    -aeo7C  
     '|A5a+[  
    pGcx jm  
    2. 组件连接器 qzbkxQu]g  
    A%czhF  
    ]3 8<ly7  
          Hpo?|;3D5  
    几何光学仿真 H* L2gw  
     <[B[  
    以光线追迹 "VVR#H}{  
     "6o}qeB l  
    1. 结果：光线追迹 8iH;GFNJ7'  
    [#*?uu+ jK  
    $?JLCa  
          <W[8k-yOV`  
    快速物理光学仿真 LU IT=+  
     JLV}Fw  
    以场追迹 MHT,rqG  
     2Q'XB  
    1. NA=1.4时的光栅成像 { )GEgC  
    Y1ilH-8  
     MfpWow-#{  
    zam0(^=  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 byj mH  
       VOK$;s'9}  
    mW(_FS2%,  
    ]Q_G /e  
    3. NA=0.5时的光栅成像 0}7Rm>  
       ?;#3U5$v  
    .yh2ttf<gB  
     Nb9V/2c;V  
    文件信息 o/[yA3^  
    Fh4w0u*Q  
     PdN\0B `  
    64?$TT  
     f<U m2YGW  
    QQ：2987619807 D}/.;]w<[&  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表