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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 H7i$xWs  
     u6:pV.p  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 1 4 LI5T  
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    1. 案例 wwKh CmH  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 >Ps7I  
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    1. 系统构建模块 _F p>F  
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    2. 组件连接器 DOm[*1@^  
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    几何光学仿真 lC 97_ T  
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    以光线追迹 F=G{)*Ih  
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    1. 结果：光线追迹 %u?HF4S'  
    Np)3+!^1"  
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          U7&x rif  
    快速物理光学仿真 4n 3Tp{Y}  
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    以场追迹 L{ gE'jCC  
     :ZdUx  
    1. NA=1.4时的光栅成像 4dH}g~[P9  
    [n,?WwC  
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    8U~.\`H-PT  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 9T2xU3UyY  
       0Flu\w/+P  
    pw>m.=9|y  
    BpAB5=M0  
    3. NA=0.5时的光栅成像 S_J :&9L  
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     &!7+Yb(1  
    文件信息 zxD,E@lF  
    +2cs#i  
     PW}OU9is  
    k D~uGA  
     #;9H@:N  
    QQ：2987619807 ed~R>F>  
     
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