切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 《杂散光抑制与评估技术》 Zemax光学设计实践基础(陈家璧) 光学设计与光学元件
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 现代光学设计及应用(Zemax) CODE V,LightTools,RSoft,LucidShape 计算光学带来的成像革命(第2季)
    发帖 回复
    返回列表
    • 2255阅读
    • 0回复

    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    7172
    光币
    30001
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 T#/11M$uQ  
     ZgK@Fl*k  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 WSSaZ9 =  
    ^:U;rHY  
    b2W;|  
     Y& m<lnB  
    1. 案例 qWkx:-g]  
    CCy .  
     )Jmw|B  
      DSTx#*  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 6XZN>#  
     eNivlJ,K|@  
    1. 系统构建模块 l2r>|CGQ[  
    iAg}pwU  
     sbpu qOL  
    sgR 9d  
    2. 组件连接器 ?9CIWpGjU  
    gMCy$+?  
    ?!rU |D  
          "^!j5fZ  
    几何光学仿真 OY$7`8M[  
     }&=uZ:  
    以光线追迹 PaA6Z":  
     5,Qy/t}K  
    1. 结果：光线追迹 E:%>0FE  
    x={kjym L  
    5N Fq7&rJ6  
          Un~]Q?w  
    快速物理光学仿真 ,Z >JvTnH  
     5BZ+b_A>VV  
    以场追迹 ^9n}-Cqeq  
     zv&ePq\#  
    1. NA=1.4时的光栅成像 EC0zH#N  
    3@%BA(M  
     ]U#JsMS  
    q=J9L Q  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 }7otuO(pRo  
       :A,O(   
     `NTM%# w  
    3#7ENV`  
    3. NA=0.5时的光栅成像 wbn^R'  
       9T?~$XlX  
    hYs82P|2Ol  
     9@JlaY)0  
    文件信息 I=Gr^\x=  
    Zjw!In|vC  
     3}v0{c  
    ': 5Trx  
      >cC Gx  
    QQ：2987619807 ' }y]mFpF  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表