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    [分享]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-06
    摘要 NJ^H"FLS:  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 17-D\ +}  
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    1. 案例  j-H2h  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 =Nyq1~   
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    1. 系统构建模块 ~,*=j~#h  
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    2. 组件连接器 scXY~l]I*  
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    几何光学仿真 hI+mx  
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    以光线追迹 ,Pq@{i#  
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    1. 结果：光线追迹 dX720/R  
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    快速物理光学仿真 +>w %j&B  
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    以场追迹 jcC "S qL  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 ^lI>&I&1  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 z2/E?$(  
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    3. NA=0.5时的光栅成像 Hzn6H4Rc  
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    QQ：2987619807 B %L dH  
     
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