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摘要 qg|ark*1u WFhppi [9j,5d&m q&_\A0 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ,4 q^( ^f-)gZ& 建模任务 QDVSFGwr og~a*my3 G l2WbY !%DE(E*'(
由于组件倾斜引起的干涉条纹 <#199`R ksOc,4A t0kZFU !VsdKG) 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 z`I%3U5( <|]i3_Z XD|Xd|/ { -AU'1iRcK7 文件信息 0>D*d'xLd PRx- 0S CfD4m,6 VS_\bIC ]YfG`0eK< QQ:2987619807 b$_qG6)IJO
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