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摘要 Yjoe| ,X!6|l8 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 '#6eUb PVb[E 03 建模任务 W9SU1{*9 /+*"*Br/ e)sR$]i:v 元件倾斜引起的干涉条纹 kjYM&q w)dnmrKDZg 2yA)SGri 元件移位引起的干涉条纹 bZxN]6_ yGR{-YwU! "2mPWRItO 文件信息
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QQ:2987619807
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