激光探针台测试内容

探针台主要应用于半导体行业、光电行业。针对集成电路以及封装的测试。 广泛应用于复杂、高速器件的精密电气测量的研发，旨在确保质量及可靠性，并缩减研发时间和器件制造工艺的成本。 90(UgK&Y  
>'.[G:b  
探针台应用范围：8寸以内Wafer，IC测试，IC设计等 }Q;BQ2[  
L^x5&CCwk  
+8eVj#N  
激光探针台测试内容： SlT7L||Ww  
1. 微小连接点信号引出 cPSti  
2. 失效分析失效确认 "G@E6{/  
3. FIB电路修改后电学特性确认 EFD?di)s  
4. 晶圆可靠性验证 Qqh^E_O  
5. 激光打标 ILNXaJ'0a  
6. 表层修复线路 YLE/w@*  
7. 驱除短路点 _trpXkQp  
8. 激光断线 K9^"NS3  
9. 干扰芯片测试