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光学测量>显微镜 %}SrL* V1N3iI u5`u>.! z% ?+AM)P 亮点 )4 e.k$X^ PbJ(:`u
].w4$OJ? y@S$^jk. 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 Y8~"vuIE5 数秒内快速的高性能分析复杂系统 *SJ_z(CZm 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 G"qvz{* 研究偏振效应 C_}]`[ s%7t"-=& 说明:光源 oq
Xg 角向偏振光 XJ;57n-? G5BfNU
#jvtUS \ yLvDMPj O m|_{ PJ|P1O36a 径向偏振光 0*3R=7_},o VPJElRSH {UI+$/v# *w`sM%]Rq 说明:透镜系统 sUO`u qZV ?(1y Q->sV$^=T -$ls(oot 说明:样品结构 y'q$| W:2( .? ~,Zc% s~| `Y$4 H,8L 说明:探测器 N#_H6TfMG `4J$Et%S
7&)bJ@1U M'O <h 结果:3D光线追迹 Dw.J2>uj BL}\D;+t 194)QeoFw
Ax7[;|2 结果:光线追迹 <)H9V-5aZ b2Fe<~S{ 角向偏振光 oJz^|dW Q(?#'<.# +~$ ]}% ;A'mB6?%H 结果:光线追迹衍射级 *L^,| .*Y 角向偏振光 BX7kO0j i[3'ec3 E{`fF8]K 6%_nZvRv 结果:场追迹 6A-|[(NS 角向偏振光 R
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