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光学测量>显微镜 C#w]4 $/ SLhEc AA:no= ^I]{7$6^ 亮点 gq5qRi`q @+_&Y]
somfv$'B Fpt-V 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 gZT)pP 数秒内快速的高性能分析复杂系统 /dDzZ%/@ 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 \nqo%5XL 研究偏振效应 }xlKonk RH~3M0'0 说明:光源 Z v0C@r 角向偏振光 dZGbC 9 =w<v3 wWN4
/9Ilo\MdD k:#6^!b1 s T3p>8n (3*UPZv 径向偏振光 Xev54!619 CQODXB^ YYRT.U' 6(sIYZ2yq 说明:透镜系统 I"xWw/Ec Y(GN4@`S g$j6n{Yl _ ^7|!(Sz 说明:样品结构 Wn!G.(Jq -PAF p3w\y rdj@u47 bO49GEUT _ 说明:探测器 #/j ={*- .9LL+d
H]&!'\aUz JatHSW7j9 结果:3D光线追迹 ;Mj002.\G S=gW(c2' FQf#*
U q X1E 结果:光线追迹 SZVV40w xKp0r1} 角向偏振光 gZ(O)uzv M@?"t_e1 0^]t"z5f0 lVeH+"M? 结果:光线追迹衍射级
SNvb1& QJ];L7Hbo 角向偏振光 J(d2:V{h ,VD6s!( gJ\%>r7h q|q::q* 结果:场追迹 p
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