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摘要 `=rDB7!$yL Z<n%~z^ 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 Hp?uYih0 Y#aHGZ$i 建模任务 R|O."&CAB Wf!<Qot|R# Fg-4u&Ik 元件倾斜引起的干涉条纹 )6,Pmq~) Pg/$N5-> ctWH?b/ua 元件移位引起的干涉条纹 5W~-|8m Aq"<#: R7-+@ 文件信息 #ysSfM6 k4Ub+F kmfxk/F}
QQ:2987619807
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