扫描电子显微镜SEM应用

发布:探针台 2020-05-12 10:28 阅读:1281
扫描电子显微镜SEM应用范围: zh2gU@"  
      1、材料表面形貌分析,微区形貌观察 R-Y|;  
      2、各种材料形状、大小、表面、断面、粒径分布分析 Z P\A  
      3、各种薄膜样品表面形貌观察、薄膜粗糙度及膜厚分析 - i``yf?P  
g(d9=xq@k  
_I;+p eq  
扫描电子显微镜样品制备比透射电镜样品制备简单,不需要包埋和切片。 xFZA1 8  
样品要求: &m=Xg(G~c  
样品必须是固体;满足无毒,无放射性,无污染,无磁,无水,成分稳定要求。 TV$Pl[m   
制备原则: ?b?`(JTR  
表面受到污染的试样,要在不破坏试样表面结构的前提下进行适当清洗,然后烘干; LQVa,'  
新断开的断口或断面,一般不需要进行处理,以免破坏断口或表面的结构状态; r3a$n$Qw  
要侵蚀的试样表面或断口应清洗干净并烘干; kz]vXJ  
磁性样品预先去磁; L(tA~Z"k  
试样大小要适合仪器专用样品座尺寸。 %U]_1"d,<\  
常用方法: t7|uZHKK  
块状样品 M{Ss?G4H  
块状导电材料:无需制样,用导电胶把试样粘结在样品座上,直接观察。 Do@:|n  
块状非导电(或导电性能差)材料:先使用镀膜法处理样品,以避免电荷累积,影响图像质量。 E\N?D  
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