用户可以通过以下输入指定个别
光线进行校正，但是需添加在M、MF、L或LL等行之后。
v w/J8' 
$Sip$\+* { A / S / MUL / DIV } {
ICOL / P }
name HBAR XEN YEN GBAR [ SN ]
>tV{Pd1 其中
name为：
y/7\?qfTk 
4p;` C A、 S、 MUL 和 DIV确定如何将该部分
像差与任何先前的像差部分组合来构成一个组合。(加、减、乘、除)。
-zeG1gr3 ICOL——
波长编号。可用“P”代替主波长，但不能用“Ｍ”。
yq\K)g*= YA——光线Y坐标实际值；
s-Tv8goNV YC——主光线在主波长下的Y坐标；
AH7}/Rc YP——主光线在设置波长下的Y坐标；
pO3SUOP XA——光线X坐标实际值；
5e^ChK0Q XC——主光线在主波长下的X坐标；
2eY _%Y0 XP——主光线在设置波长下的X坐标；
flbd0NB ZA——光线Z坐标实际值；
<<5(0#y# OPD——光程差，单位为waves；
B %6)}Nl[ OPP——光线差；
iz PDd{[ RA——从光轴到光线截距的径向距离。总是正值；
d^
8ZeC# RC——光线截距与主光线在主波长下的距离。总是正值；
c-6?2\]j@ ZZ——经表面折射后的光线路径在X-Z平面上
投影的角度正切值；
d/kv|$XW HH——经表面折射后的光线路径在Y-Z平面上投影的角度正切值；
;dgp+ UNI——在表面折射之前，表面上的光线入射角，单位为度，总是正值；
N S[l/0F& UNR——经表面折射后的光线角度；
QlU8uI[dk HFREQ——HOE或
光栅的局部光栅频率；这是沿着条纹平面测量的；
CkQ3#L <2 HSFREQ——光栅频率是沿着表面测量的，而不是普通平面；
n;Vs_u/Nx FLUX——光通量；
OA;XiR$xP XG，YG，ZG——光线的全局（X，Y，Z）坐标；
I1M%J@ Cz ZZG，HHG——全局角度切线；
BW*rIn<?G XL，YL，ZL，ZZL，HHL——对应局部的（X，Y，Z）坐标和角度正切；
~=l;=7 T XE，YE，ZE，ZZE，HHE——对应外部的（X，Y，Z）坐标和角度正切；
?IT*: A] E ERROR——这种像差与其他像差有很大的不同，只能单独使用，不能定义其他像差。它的目的是纠正目前出现光线故障，因此无法正常
优化的
镜头。
t-bB>q#3> DSLOPE——该像差追迹一条光线，以找到目标表面的截距坐标，返回值是表面本身在截点处的斜率，总是正的。并且以度为单位。这是为了帮助避免过于陡峭的表面可能难以统一覆盖。
5<Nx ^D HBRAGG——是HOE的光线截角和构造角之间的差值，其是布拉格角。用弧度表示。
o]oum,Q PL——沿给定表面与前表面之间的光线的
物理长度；
FWgpnI\X|{ OPL——给出任意两个表面之间的光程长度；
S;#'M
