用户可以通过以下输入指定个别光线进行校正，但是需添加在M、MF、L或LL等行之后。 $dlnmNP+
AF6d#Klog
{ A / S / MUL / DIV } { ICOL / P } name HBAR XEN YEN GBAR [ SN ] _= o1?R
其中name为： KYnW7|*
QpdujtH`
A、 S、 MUL 和 DIV确定如何将该部分像差与任何先前的像差部分组合来构成一个组合。(加、减、乘、除)。 K?5B>dv@A
ICOL——波长编号。可用“P”代替主波长，但不能用“Ｍ”。 R#"U/ 8b>z
YA——光线Y坐标实际值； Ix* BI9E
YC——主光线在主波长下的Y坐标； QN)/,=#
YP——主光线在设置波长下的Y坐标； !T<z'zZU
XA——光线X坐标实际值； (iHf9*i CV
XC——主光线在主波长下的X坐标； WpXODk QL
XP——主光线在设置波长下的X坐标； +CsI,Uf4*
ZA——光线Z坐标实际值； .'l.7t
OPD——光程差，单位为waves； t7{L[C$
OPP——光线差； a/`c ef
RA——从光轴到光线截距的径向距离。总是正值； S
23S.]r
RC——光线截距与主光线在主波长下的距离。总是正值； &/B2)l6a
ZZ——经表面折射后的光线路径在X-Z平面上投影的角度正切值； UI|v/(_^F
HH——经表面折射后的光线路径在Y-Z平面上投影的角度正切值； s(1_:
UNI——在表面折射之前，表面上的光线入射角，单位为度，总是正值； 4q\.I +r^
UNR——经表面折射后的光线角度； ke3HK9P;
HFREQ——HOE或光栅的局部光栅频率；这是沿着条纹平面测量的；
91-P)%?
HSFREQ——光栅频率是沿着表面测量的，而不是普通平面； uS!
35{.>
FLUX——光通量； j[$B\H
XG，YG，ZG——光线的全局（X，Y，Z）坐标； ?;0 nJf
ZZG，HHG——全局角度切线； 5;3c<
XL，YL，ZL，ZZL，HHL——对应局部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； !A'`uf4u
XE，YE，ZE，ZZE，HHE——对应外部的（X，Y，Z）坐标和角度正切； )'BJ4[aq\
ERROR——这种像差与其他像差有很大的不同，只能单独使用，不能定义其他像差。它的目的是纠正目前出现光线故障，因此无法正常优化的镜头。 8w{#R{w
DSLOPE——该像差追迹一条光线，以找到目标表面的截距坐标，返回值是表面本身在截点处的斜率，总是正的。并且以度为单位。这是为了帮助避免过于陡峭的表面可能难以统一覆盖。 ?=;e.qK=71
HBRAGG——是HOE的光线截角和构造角之间的差值，其是布拉格角。用弧度表示。 33#7U+~]@
PL——沿给定表面与前表面之间的光线的物理长度； }S~ysQwT
OPL——给出任意两个表面之间的光程长度； ^D W#
ILLUM——这个像差比较给定视场的照明和轴上的照明。 %nDPM? aO
HBAR——Y方向上物高分数坐标； R,d70w
(_
XEN——X方向上入瞳分数坐标； a@5x z)
YEN——Y方向上入瞳分数坐标； +E q~X=x
GBAR——X方向上物高分数坐标； v @$evmA
SN——计算光线截距的表面编号。默认为像面。 _V_8p) %
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