用户可以通过以下输入指定个别光线进行校正,但是需添加在M、MF、L或LL等行之后。 sVcdj|j
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{ A / S / MUL / DIV } { ICOL / P } name HBAR XEN YEN GBAR [ SN ] a hwy_\
其中name为: jnDQ{D
}Eb]9c\
A、 S、 MUL 和 DIV确定如何将该部分像差与任何先前的像差部分组合来构成一个组合。(加、减、乘、除)。 *N'hA5.z
ICOL——波长编号。可用“P”代替主波长,但不能用“M”。 hA5,w_G/
YA——光线Y坐标实际值; /4H[4m]I
YC——主光线在主波长下的Y坐标; :K;T Q
YP——主光线在设置波长下的Y坐标; p6[#f96^u
XA——光线X坐标实际值; (h|ch#
XC——主光线在主波长下的X坐标; TC@bL<1
XP——主光线在设置波长下的X坐标; wlL8X7+:
ZA——光线Z坐标实际值; S" {GlRpd
OPD——光程差,单位为waves; QnP{$rT
OPP——光线差; Me<du&
T
RA——从光轴到光线截距的径向距离。总是正值; mb~./.5F
RC——光线截距与主光线在主波长下的距离。总是正值; 2x6<8J8v*
ZZ——经表面折射后的光线路径在X-Z平面上投影的角度正切值; .c: )Qli
HH——经表面折射后的光线路径在Y-Z平面上投影的角度正切值; ,{pGP#
UNI——在表面折射之前,表面上的光线入射角,单位为度,总是正值; yIa[yJq
UNR——经表面折射后的光线角度; jPpRsw>
HFREQ——HOE或光栅的局部光栅频率;这是沿着条纹平面测量的; T aEt
HSFREQ——光栅频率是沿着表面测量的,而不是普通平面; HlF}
FLUX——光通量; 8Y xhd
.
XG,YG,ZG——光线的全局(X,Y,Z)坐标; }<.7 xz|V
ZZG,HHG——全局角度切线; $mD>rx
XL,YL,ZL,ZZL,HHL——对应局部的(X,Y,Z)坐标和角度正切; 2pjW,I!`
XE,YE,ZE,ZZE,HHE——对应外部的(X,Y,Z)坐标和角度正切; m'SmN{(t
ERROR——这种像差与其他像差有很大的不同,只能单独使用,不能定义其他像差。它的目的是纠正目前出现光线故障,因此无法正常优化的镜头。 1N>6rN
DSLOPE——该像差追迹一条光线,以找到目标表面的截距坐标,返回值是表面本身在截点处的斜率,总是正的。并且以度为单位。这是为了帮助避免过于陡峭的表面可能难以统一覆盖。 }ymc5-
HBRAGG——是HOE的光线截角和构造角之间的差值,其是布拉格角。用弧度表示。 FXeV6zfrE
PL——沿给定表面与前表面之间的光线的物理长度; 7:h<`_HT(X
OPL——给出任意两个表面之间的光程长度; ZXh~79
ILLUM——这个像差比较给定视场的照明和轴上的照明。 bSY;[{Kl
HBAR——Y方向上物高分数坐标; v8>!Gft
XEN——X方向上入瞳分数坐标; @Mzz2&(dU
YEN——Y方向上入瞳分数坐标; Vj/fAHR`>'
GBAR——X方向上物高分数坐标; 90?,-6
SN——计算光线截距的表面编号。默认为像面。 erXy>H[;
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