激光开封机在芯片开封中的应用

激光开封机在芯片开封中的应用： i./Y w
 
半导体业的铜制成芯片越来越成为发展主流，这给失效分析中器件开封带来越来越高的挑战。传统的酸开封已经没有办法完成铜制成器件的开封，良率一般低于30%。此时仪准科技推出的激光开封机，给分析产业带来了新的技术。 2np-Fc{S  
产片特点： eT\p-4b  
1、对铜制成器件有很好的开封效果，良率高于90%。 .tp=T  
2、对环境及人体污染伤害交小，符合环保理念。 3@HIpQM3  
3、开封效率是普通酸开封机台的3~5倍。 Sf/W9Jw  
4、电脑控制开封形状、位置、大小、时间等，操作便利。 5KaSWw/  
5、设备稳定，故障率远低于酸开封机台。 *a4 b  
6、几乎没有耗材，running cost很低。 llqDT-cp  
7、体积较小，容易摆放。 va+m9R0  
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Tool Description: G>j"cj  
1.Software: Windows XP W_D%|Ub2X  
2.Good Solution for the Depcasulation Processing ,O9`X6rh'  
3.The Best Solution of Copper Bonding Material Opening. =U_@zDD@V  
4.The Etch Rate Is Controllable and the Good Etch Uniformity. |wJ),h8/  
5.Convenient Failure Analysis Tool for PCBA or BGA Substrate Sample Preparation. x`3.Wu\  
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Applied Package Types: rr4 _8Rf  
QFP, QFN, SOT U\;Ml
 
TO, DIP 0k7"H]J  
BGA cuNq9y;[  
COB, Assembly types vT}pbOTh  
Short Processing Time in ASIC and Power Chip T-!|l7V~f  
MCM Sample Opening G`WzJS*}v  
Customized Area Opening #PPsRKj3c  
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The Total Solution of Stacked Chip Opening. n('VQ0b  
The Copper Wire Bonding Decapsulation. a6 *Y%?  
Adjusted Etch Rate to Control the Decapsulated Well. 5I_hh?N4Z  
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The Package 2nd Bonding Inspection with Laser Decapsulation. ]X4RnV55Q  
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The PCB or BGA substrate Delayer Inspection. 7TR'zW2W  
Failure Analysis for the Copper Crack or Electrical Probing. tUn&z?7bF  
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The Sample Preparation for Molding Compound Removal and Cross-section. +-",2d+g  
The Specific Shape Opening Is Available. =b|)Wnt2f  
芯片失效分析实验室介绍，能够依据国际、国内和行业标准实施检测工作，开展从底层芯片到实际产品，从物理到逻辑全面的检测工作，提供芯片预处理、侧信道攻击、光攻击、侵入式攻击、环境、电压毛刺攻击、电磁注入、放射线注入、物理安全、逻辑安全、功能、兼容性和多点激光注入等安全检测服务，同时可开展模拟重现智能产品失效的现象，找出失效原因的失效分析检测服务，主要包括点针工作站（Probe Station）、反应离子刻蚀（RIE）、微漏电侦测系统（EMMI）、X-Ray检测，缺陷切割观察系统（FIB系统）等检测试验。实现对智能产品质量的评估及分析，为智能装备产品的芯片、嵌入式软件以及应用提供质量保证。 #C'o'%!(  
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国家应用软件产品质量监督检验中心 v3!byN^  
北京软件产品质量检测检验中心 }$w4SpR  
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