失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： r#%e$
 
原子发射光谱 ICP-OES J=%(f1X<W  
气相色谱质谱 GC/MS n<}t\<LG^c  
X荧光能谱 |f:1Br  
XRF %Sgdhgk1  
原子吸收 AAS Kx-s95t  
紫外分光 UV Ju0W  
离子色谱 IC %^5|3l3y  
等离子质谱 ICP-MS zA~aiX  
显微傅利叶红外 -<Wv7FNpD  
FTIR 0[f8Gb3  
双晶X衍射分析仪 DCXRD H=_ Wio  
以及其它各类分析检测仪器... kp{q5J6/  
温度冲击 Thermal Shock ]r|nz~Aa$  
高温高湿 _P^ xX'v  
TH wM]j#  
老化试验 Burn-in ^}F@*A;o  
紫外辐射 UV Oven 6lp.0B  
太阳氙灯 Solar/Xenon ceW,A`J  
盐雾试验 Salt Mist .L#xX1qr  
振动试验 2feiD?0  
Vibration (jV_L1D  
跌落 Shock 9d\B*OU  
回流敏感度 .4t-5,7s%  
MSL L~WC9xguDl  
耐磨试验、弯折试验... $aY*1UVq  
声学扫描 SAM @T }p.  
X-射线透射 X-Ray f vAF0 a  
俄歇电子成份分析 AES K&\3j-8^  
光辐射电子显微镜 ogOUrJ}P  
EMMI l6[0i  
有限元模拟与分析 FEA z_A:MoYfo  
透射电镜 TEM A9?h*/$  
聚焦离子束 FIB I3#h  
原子力显微镜 AFM ;;*'<\lP.j  
热力学分析 +&U{>?.u  
TMA/DMA c`F~vrr)X  
集成电路分析仪... ^Hdru]A$2  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS b<1k$0J6  
金相切片制样 Cross section Hq>"rrVhx  
染色分析 Dye and b8>2Y'X  
pry 5bfd8C  
开封制样 Decapsulation uoryxKRjc~  
激光开封仪 Laser Decap ~ sC<V  
光学显微镜 Optical VSxls  
Microscope 2I!L+j_  
拉力剪切力 Pull/Shear tester Tej&1'G  
可焊性试验机 Solderbility tester !%1=|PX_  
静电/过电分析仪 Q9[$8  
ESD/EOS k=7+JI"J  
tester kW 7$  
绝缘/开路电阻... 1]yjhw9g  
认证、检测与工艺分析范围： 3RW3<n  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 "I7 Sed7  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； ftw@nQNU  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； ITq$8  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 -kv'C6gB  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； SviGLv;oR