失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： i,R+C.6{  
原子发射光谱 ICP-OES 2cu?2_,  
气相色谱质谱 GC/MS ^?Y x{r~9  
X荧光能谱 ^DaP^<V  
XRF 4\rwJD<  
原子吸收 AAS 24; BY'   
紫外分光 UV QVq+';cG  
离子色谱 IC uB*Y}"Fn  
等离子质谱 ICP-MS E4;@P']`  
显微傅利叶红外 0DQ\akh  
FTIR loR,f&80=O  
双晶X衍射分析仪 DCXRD e^ ZxU/e  
以及其它各类分析检测仪器... 8~6H\.0Q  
温度冲击 Thermal Shock (;(P3h  
高温高湿 g UAx8=h  
TH ~MZEAY9  
老化试验 Burn-in 'G|M_ e  
紫外辐射 UV Oven 2*5]6B-(  
太阳氙灯 Solar/Xenon rd\:.  
盐雾试验 Salt Mist aZBS!X  
振动试验 d:"#_  
Vibration `(Eiu$h6V-  
跌落 Shock rV[/G#V>{  
回流敏感度 1v2pPUH\  
MSL S9@2-Oc  
耐磨试验、弯折试验... ^U@-Dp,k+  
声学扫描 SAM |u5Xi5q.f  
X-射线透射 X-Ray M>m+VsJV  
俄歇电子成份分析 AES 3Y6W)$Q  
光辐射电子显微镜 V#-\ 4`c  
EMMI )/4xR]  
有限元模拟与分析 FEA -s5>GwZt  
透射电镜 TEM 6:$+"@ps  
聚焦离子束 FIB FM=-^l,  
原子力显微镜 AFM zh60b{  
热力学分析 [e.@Yx_}  
TMA/DMA Hi5}s  
集成电路分析仪... W%,h{  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS E!SxO~  
金相切片制样 Cross section [:Y`^i
R.  
染色分析 Dye and Dc;zgLLL  
pry h^aUVuL/  
开封制样 Decapsulation jYJRG<*e  
激光开封仪 Laser Decap r{1xjAT  
光学显微镜 Optical ~P@6fK/M  
Microscope JA(M'&q4  
拉力剪切力 Pull/Shear tester *$/!.e  
可焊性试验机 Solderbility tester n `Ry!  
静电/过电分析仪 iLR^V!  
ESD/EOS Pko2fJt1  
tester _a[)hu8q.  
绝缘/开路电阻... hOH D
Xc"  
认证、检测与工艺分析范围： R.rxpJ+kU  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 j 5{"j  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； 8*\PWl  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； 6O9?":3;  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 ek9Y9eJ"  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； `^#V1kRmH