失效分析、可靠性与材料理化技术

失效分析、可靠性与材料理化技术服务： UYQ$c }Z5  
原子发射光谱 ICP-OES 6b/b}vl  
气相色谱质谱 GC/MS 2jW>uk4/i  
X荧光能谱 K*Jtyy}r  
XRF K
8J2eV\  
原子吸收 AAS 88>Uu!M=f  
紫外分光 UV gHx-m2N
 
离子色谱 IC _o.Z`]  
等离子质谱 ICP-MS !T*B{+|  
显微傅利叶红外 ]CZLaID~  
FTIR =b7&(x  
双晶X衍射分析仪 DCXRD BB.TrQM.#  
以及其它各类分析检测仪器... .NT&>X~.V  
温度冲击 Thermal Shock s.sy7%{  
高温高湿 XX-T"
,  
TH ]uvbQ.l_t  
老化试验 Burn-in Qm#i"jvV  
紫外辐射 UV Oven ^I{]Um:  
太阳氙灯 Solar/Xenon {{3H\ rR  
盐雾试验 Salt Mist `&_k\/  
振动试验 @(c<av?  
Vibration I
BkH+j  
跌落 Shock X=pt}j,QrP  
回流敏感度 ;n!X% S<z*  
MSL
{0e{!v  
耐磨试验、弯折试验... 8uxFXQ  
声学扫描 SAM f^4*.~cB  
X-射线透射 X-Ray  _)E8XyzF  
俄歇电子成份分析 AES uAs*{:4n  
光辐射电子显微镜 t4_K>Mj+d  
EMMI  vkpV,}H  
有限元模拟与分析 FEA MN
qyEc""  
透射电镜 TEM ZPsY0IzLo  
聚焦离子束 FIB |u"R(7N*  
原子力显微镜 AFM :EwA$`/  
热力学分析 /Q8A"'Nk  
TMA/DMA }AW)R&m  
集成电路分析仪... &PuJV +y  
扫描电镜与能谱仪SEM/EDS H}V*<mgw  
金相切片制样 Cross section %`T5a<   
染色分析 Dye and +Nbk\%  
pry GFdJFQio  
开封制样 Decapsulation 6r=)V$K<  
激光开封仪 Laser Decap j' KobyX<  
光学显微镜 Optical 0a6@HwO  
Microscope ~|{)h^]@  
拉力剪切力 Pull/Shear tester q;../h]Ne  
可焊性试验机 Solderbility tester SE)j}go  
静电/过电分析仪 'Y{ux>  
ESD/EOS UUf1T@-  
tester 0nz@O^*g(  
绝缘/开路电阻... WFB|lNf
&  
认证、检测与工艺分析范围： ?VZXJO{^  
芯片级：Si晶、铝互连、MOS、Passivation、TSV通孔、钨通孔、PAD等 7]xz8t  
器件级：集成电路、分立器件、电容、电阻、电感、三极管、射频器件、电源模块、功率器件等；封装形式、BGA、Flipchip、CSP、PLCC、TSOP、QFP、WSP、铜引线、金引线等； kqig
Fcz!Y  
部件级：PCB与PCBA，柔性线路板、光学模组、LED模组、LCD模组、太阳能电池组件等； E'S;4B5?  
系统级：信息资讯类产品、笔记本、计算机、开关电源，网卡，摄像头，移动硬盘，数码相机，显示器，扫描仪，投影仪，机顶盒，光电收发器，MP3/MP4，HUB,照明 gDNTIOV  
灯具、镇流器、家电、电冰箱、热水器、电视机、空调、通讯产品、手机、有绳电话机，来电显示器，汽车部件类产品、主控仪表、金属配件、塑胶配件等；化工与电子材料类产品、焊锡膏、助焊剂、焊料、塑胶外壳等； FP9<E93br