透视检测x射线分析无损检测

主要用途 _Kj.  
!U!E_D.O  
利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； ~.lH)  
JT9<kB/07  
性能参数 [Z+,)-ke  
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a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； t5APD?5 c  
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b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； FlG^'UD  
I}v#r8'!  
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； &NQR*Tn  
Kzu9Qm-+z^  
d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； B3t>M) 9  
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应用范围 j*`!o/=LI  
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1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； XXcf!~uO  
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2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； @b{u/:y  
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3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。