透视检测x射线分析无损检测

主要用途 !ga(L3vf  
q'Pz3/mk  
利用X光对样品内部的结构特征进行无损检测； #u<oEDQ  
F`BgKH!  
性能参数 ]D) 'I`  
K)Xs L  
a)几何放大倍数2000倍，整体放大倍数10000倍； Oz#EGjz  
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b)2D检测尺寸：310mm ×310mm； D"x$^6`c}  
A{8K#@!  
c)3D检测尺寸：210mm ×100mm；样品厚度：100mm； !G"9xrr1  
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d)采用数字平板探测器，灰度等级不低于16bit，像素尺寸不少于127um，像素不小于1000 x 1000 Pixel； o,Tr^e$  

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应用范围 v<7Gln  
B/sBYVU  
1.检测DIP、SOP、QFP、QFN、BGA、Flipchip等不同封装的半导体、电阻、电容等电子元器件以及小型PCB印刷电路板； 8pq-nuf|K  
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2.检测器件内部芯片大小、数量、叠die、绑线情况； kToVBU$  
Y0X"Zw  
3.检测芯片crack、点胶不均、断线、搭线、内部气泡等封装缺陷，以及焊锡球冷焊、虚焊等焊接缺陷。