OM分析失效分析

主要用途 :$yOic}y  
8,+T[S  
样品外观、形貌检测。 .
@mZG<vg  
AZNo%!)o  
twldwuN  
性能参数 t W   
"3Dnp
?gB  
a)总放大倍数为50x-1000x； og+Vr
d  
KdHkX+-R  
b)目标Z空间：0-25mm； hTby:$aCg  
BBX/&d8n  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； !7#*Wdt+P  
3bC-B!{;g  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 RmKbnS$*q  
/#_[{lSr?  
k8}'@w  
JDnW
BEV  
应用范围 p.4Sgeh#  
~KGE(o4p  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。