OM分析失效分析

主要用途 7@>/O)>(AS  
fn,hP_  
样品外观、形貌检测。 zsQ|LwQ  
!CX WoM  
ObEz0Rj  
性能参数 [ 5}Q  
7`;f<QNo  
a)总放大倍数为50x-1000x； mN}s
zW,  
j\IdB:}j  
b)目标Z空间：0-25mm； a{r"$>0  
QK+,63@D\=  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； P9'` 2c  
O7 aLW  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 vE'{?C=EM  
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FMeBsI9pL  
jw=PeT|  
应用范围 xmcZN3 ){+  
cbyzZ#WRb  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。