OM分析失效分析

主要用途 4(` 2#  
a/`c ef  
样品外观、形貌检测。 <bEN8b  
g0^~J2sDd  
*\=2KIF'  
性能参数 kV*y_5g  
3S[w'  
a)总放大倍数为50x-1000x； D< nlb-  
j#*asGdp#J  
b)目标Z空间：0-25mm； JIyBhFI  

!Z#_X@NFc  
c)具有明场、高级暗场（ADF）、偏光（其中检偏器可旋转360°）、微分干涉观察功能和预留功能位置，功能转换方便，增减功能操作简捷； X% Spv/8{  
:)KTZ  
d)具备记录光口，可安装数码采集、视频输出等多种记录及输出方式 fOqS|1rC  
%k/ k]:s  
i1b4 J  
uB5h9&57  
应用范围 .\z|Fr  
=$"zqa.B6  
主要应用于制备样片的金相显微分析及各种缺陷的查找。