摘要
yM*_"z!L A().1h1_k 在
干涉仪中，条纹的对比度可能取决于
光源的相干特性。例如，在具有一定带宽的光源的迈克尔逊
干涉仪中，干涉条纹对比度随光程差的不同而变化。通过测量可动镜不同位置的干涉图对比度，可以得到光源的相干长度。典型的傅里叶变换
光谱通常基于这种类型的光路。
O@a7 MzJ C);I[H4Yfw {J-Ojw|Y b 2E0oLl[ 建模任务
uOPLJ?% uQg& ]bSv yT[)V[} @ b{$s 横向干涉条纹——50 nm带宽
~0rvrDDg MH=Ld=i 9yp'-RKjw JZ/T:Hsh4 横向干涉条纹——100 nm带宽
d(C5i8d '^(qlCI
] {18-= W4=A.2[q 逐点测量
@ zT2!C?^L >3&9Wbv> P>'29$1' JvY s6u VirtualLab概览
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36}&{A c9Q _Qr0' VirtualLab Fusion的工作流程
])?[9c • 设置入射高斯场
t(UdV - 基本光源
模型 {
T?1v*.[ • 设置元件的位置和方向
+ aWcK6 - LPD II：位置和方向
S}6xkX • 设置元件的非
序列通道
0~e6\7={ - 用于非序列追迹的通道设置
Tj6kCB eg"A ?S sLf~o" yb < (l`zLf4p VirtualLab技术
6ipQx/IQ [<X ~m w!OYH1ds]_ 文件信息
_+}f@&" j | LO g S7b7zJ8A oiQ:&$ y 延伸阅读
DS ;.)P" goc; .~? -
激光迈克尔逊干涉仪和干涉条纹探测 fYlqaO4[ -
马赫-泽德干涉仪 dw %g9DT -
用于光学测量的斐索干涉仪 k=9k 4l zEDN^K ' （来源：讯技光电）
