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    [分享]分析高数值孔径物镜的聚焦特性 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-23
    摘要 N9=?IFEe]  
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    高数值孔径物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 "(vm0@8><  
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    建模任务 sH :_sOV*  
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    概述 "2hs=^&8  
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    •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 :F?L,I,K  
    •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 !%>(O@~"|  
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    光线追迹仿真 9zlhJ7i  
    8 G:f[\^  
    •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 0w?G&jjNtM  
    •单击go! /C/I_S}H  
    •获得了3D光线追迹结果。 c:`CL<xzU  
    EO G&Xa  
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    5]Y?NN,GR  
    光线追迹仿真 Rz=wInFs  
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    •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 JO&+W^$uY}  
    •单击go! /`b`ai8`8  
    •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 V~S(cO[vj  
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    b}Wm-]|+  
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    场追迹仿真 dW Vm'd  
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    •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 _PGS"O?j  
    •单击go! 9bu1Ax1M  
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    场追迹仿真(相机探测器) g!!:o(k  
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    •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 [Ee <SB{  
    •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 rz.`$  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) pu Z0_1uN  
    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 "~6IjW*/  
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    场追迹仿真(电磁场探测器) -k,?cEjCs  
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    •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 !X+}W[Ic^  
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    QQ:2987619807 xH{V.n&v  
     
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