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摘要 ua,!kyS 3gtKD9RL: M5 ^qc G+<id1 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 `nY.&YT m]c1DvQb 建模任务 N_d{E/ 6W:FT Pt44 rp|A88Q/! p-H}NQ\ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 9+ |W; tJA"BP3f O`T_'.Lk $i1:--~2\ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 4vV\vXT * wj5,_d) dVZ~n4 G++<r7;x 文件信息 a)I>Ns) bt Bu[; bz.sWBugR ).-# p{+F{e QQ:2987619807 PcjeuJZ
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