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摘要 =/<LSeLxH ~/NKw: pY4}>ju(g KKA~#iCk 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 &<zd.~N" $VAx:Y| 建模任务 !-s!f&_ u4z&!MT} AV 8n( RMO,ZVq 由于组件倾斜引起的干涉条纹 `[o)<<} :^UFiUzrE y(R?
,wa=] Va Z!.#(P 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 f}guv~K Y_`- 9'& Y`+=p@2O2o e \O/H< 文件信息 [m^+,%m5] Vcd.mE(t% Pxn,Qw* MO;X>D =
2VW}9O QQ:2987619807 at2FmBdu C
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