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摘要 Qw?+!-7TN )47MFNr~> "}b'E# W&(f&{A 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 :[sOKV i z/1{OL 建模任务 9cd 8=][ e7xj_QH |;u}sX1t9 0@)%h&mD 由于组件倾斜引起的干涉条纹 f-g1[!"F %y"J8;U nxaT.uFd1 7byCc_, 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 mJC3@V
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OsU Y=; 文件信息 5]"SGP M3pjXc<O '{f=hE_/ {J]-<:XD 8LJ{i% QQ:2987619807 aMK~1]Cx
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