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摘要 )<_qTd0` lq,]E/<& 干涉测量是一种光学计量的重要技术。 它被广泛应用于表面轮廓,缺陷,机械和高精度热变形等领域的测量。 作为一个典型的例程,在非序列场追迹的帮助下,我们在VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-曾德尔干涉仪,本案例清楚地展示了光学元件的倾斜和移位对干涉条纹图案的影响。 w&J_c8S XAtRA1. 建模任务 &o1k_!25 d'3"A"9R7- Acd@BL* 元件倾斜引起的干涉条纹 HNj;_S mieyL9*n7 |Sua4~yL( 元件移位引起的干涉条纹 8_S| 8RW( 5a)$:oO! DVKb`KJ" 文件信息 X6qgApyE pFwJ: |90X_6(
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