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摘要 5wE !_ng>| /RXk[m- 0%&fUz36E6 %xbz&'W, 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 =xlYQ}-(a )l[7;ZIw$ 建模任务 oRvm*"8B dZ]\1""#H <5!RAdaj+ v#<+n{B 由于组件倾斜引起的干涉条纹 W O \lny! u%gm+NneK [pC-{~ (8m\#[T+R 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 jQK2<-HZ3 iK6<^,]' OL mBh3& .>gU
9A(Nk 文件信息 fB @pwmu 8HH.P`Vk# 45O6TqepN ?GMeA}j
更多阅读 E{k%d39> - Laser Based Michelson Interferometer and Interference Fringe Exploration CDTk - Fizeau Interferometer for Optical Testing ]TTJr C: !i"9f_ 8L9S^ ' QQ:2987619807 U}vtVvx
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