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摘要 s21wxu: !"8fdSfg
w 扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性,只有当光程差在相干长度内,干涉图案才会出现。因此,它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪,用于测量具有平滑变化前表面的样品。 wdUBg*X8 [s&$l G! 5jUYN-$GO >yY'7Ey 建模任务 0P\$2lk &QhX1dT+ {uGP&cS~( KiJT!moB 结果 oh$Q6G Ur*6Gi6 =m5SK5vLKT vDH>H^9Y 文件信息 ^h{)Gf,+\ 'Ysx= rk)##) ,=l7:n Z!U)I-x& QQ:2987619807 %;.;>Y(-
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