切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 近代光学系统设计概论 Zemax光学设计从入门到精通(中文版) 现代光学基础（第2版 钟锡华）
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 1173阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4619
    光币
    17475
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 #.[k=dj   
    #_lDss  
     zx7{U8*`<  
    u#SWj,X  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ehY5!D1Q  
     vfo~27T{(  
    建模任务 +nGAz{&@r%  
    "zy7C*)>r  
     p()xz  
    Y nZiT e@  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 J$v?T$LVw  
    DlNX 3  
     :\U{_@?`%  
    W@!S%Y9  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 GuL<Z1<c  
    |zE'd!7E  
     wlmRe`R  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表