切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 1177阅读
    • 0回复

    [转载]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    4653
    光币
    17641
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-07-02
    摘要 bBx.snBK  
    g/*x;d=  
    /"~ D(bw0=  
    )q.Z}_,)@  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 N=2BrKb)o  
    (I<]@7>  
    建模任务 %62W[Oh5  
    iJ8 5okv'  
    ] lBe   
    ^Rel-=Z$B  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 Vgh;w-a  
    7!-3jU@m  
    Sf_q;Ws  
    f+ }Rj0A  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 XsH(8-n0  
    33R1<dRk  
    {c 82bFiv  
     
    分享到