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摘要 zghm2{:`?g Y'h'8
\ UQ~rVUo.c [40 YoVlfM 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 q Q8l8 bb/MnhB 建模任务 b2%[9)"I. w}b+vh^3Wy o7seGw<$X uy{KV"%"^g 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ^*Fkt(ida }6N|+z.cU d`/{0 :F `yXy T^ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 e>)5j1 T5;D0tM/ <H/H@xQ8G Hyg?as>}u 文件信息 ]0le=Ee^% !Ua#smZ F o6U" 78-:hk 0iHI"9z QQ:2987619807 {IvCe0`
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