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摘要 RDUT3H6~ 9U#\nXM 高数值孔径的物镜广泛用于光刻、显微等方面。 因此,在仿真聚焦时考虑光的矢量性质是至关重要的。VirtualLab可以支持此类透镜的光线和场追迹分析。通过场追迹分析,可以清楚地显示出由于矢量效应引起的非对称焦点。相机探测器和电磁场探测器可以方便地研究聚焦区域的场,也可以深入研究矢量效应。 vC)"*wYB{ a$ C2} hMNJ'i} y=[gQJ6~r 建模任务 C:]/8 l W*YxBn4 _REqT 概述 yJDeX1+, EfFz7j&X •案例系统已预先设置了高数值孔径物镜。 8<YX7e •接下来,我们演示如何按照VirtualLab中建议的工作流程在示例系统上执行仿真。 Iq)(UfaSve cwk+#ur "Z;~Y=hC13 +J"' 'cZ 光线追迹仿真 By2s ']bw IZO@V1-m •首先选择“光线追迹系统分析器”作为模拟引擎。 ( V$Zc0 •单击go! K@q&HV"'. •获得了3D光线追迹结果。 MMMqG`Px bAdiA2VF' fZ[kh{| Vd,' s 光线追迹仿真 0z<H(| Dt
W*n1Bt •然后,选择“光线追迹”作为模拟引擎。 LyGUvi •单击go! ]53O}sH> •结果得到点图(二维光线追迹结果)。 wAw42{M ):3MYSqX B9YsA?hg cI2Fpf`2Wj 场追迹仿真 !6M Bxg > X` ATH^S •切换到场追迹,然后选择“第二代场追迹”作为模拟引擎。 5B1G?`]? •单击go! J5;5-:N {{32jU7< K]X`sH: fb23J|" 场追迹仿真(相机探测器) Gu5~DyT`G /-Wuq`P/ T •上图仅显示Ex和Ey场分量积分的强度。 _l<mu? " •下图显示Ex、Ey和Ez分量积分的强度:由于在高数值孔径情况下Ez分量相对较大,因此可见明显的不对称性。 cA<<&C rOW;yJ[
}g>kpa0c {-HDkG' 8 场追迹仿真(电磁场探测器) fe|g3>/| •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 6JSY56v 7Re-5vz
R TtPr)F| I FsE!oDs4 场追迹仿真(电磁场探测器) b
vRB \b$<J.3 •使用电磁场探测器可获得所有电磁场分量。 J_PH7Z*=, %%&e"&7HE 1SUzzlRx ZZ("-#? 文件信息 +oZH?N4yaM jJia.#.Ze *hF^fxLbl =p q:m b,Ke>.m QQ:2987619807 xdZ<|
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