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    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
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    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 s*<T'0&w0S  
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    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 {tY1$}R  
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    建模任务 -bHlFNRm  
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    由于组件倾斜引起的干涉条纹 9*ZlNZ  
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    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 TaBya0-  
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    QQ：2987619807 b3E1S+\=~  
     
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