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    [分享]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-07-13
    成像系统>包括光栅 $HFimU,V=0  
    7)l+h Z  
    任务/系统说明 +^ |=MK%  
    XWf1c ~J  
    A04E <nr  
    RjGJfN {  
    亮点 zdN(r<m9"  
    |@pn=wW  
    RJ$x{$r[  
    !<4=@  
     在复杂光学系统中,包含光栅(如,非常大的数值孔径(NA)) H>|*D~RdT  
     严格分析光栅衍射效率 '/<f'R^  
     考虑入射光的方向分布 b|u0a6  
    `SG8w_  
    说明:光源 $6*6%T5}  
    /"7_75 t  
    !mu1e=bY>  
    w72\'  
    说明:光束分束器 ^:^8M4:  
    @cu#rWiG  
    XWag+K  
    #R*7y%cO  
    说明:检测透镜系统 e&-MP;kgW9  
    {wvBs87  
    JiFB<Q\  
    ^5rB/y,  
    说明:微型晶片  EHk$,bM  
    tui5?\  
    UT_kw}1o  
    |./{,",  
    说明:检测物镜 o^v]d7I8b  
    l- $5CO  
    ]]XXcQ,A  
    YT}ZLx  
    说明:探测器 i'p6#  
    xiOAj"}~  
    <kKuis6h  
    {JQCfs  
    结果:3D光线追迹(只有0级) k|`Qk!tr  
    }h1y^fuGi  
    $V,ZH* g  
    ]DjnzClx  
    结果:3D光线追迹(所有级) <RuLIu  
    "xAIK  
    m{ f+ !  
    #@L5yy2  
    结果:光线追迹 PFjh]/=  
    ^J'O8G$  
    ca<OG;R^  
    LjCUkbzQF  
    结果:场追迹 7ygz52  
    &Gs/#2XQ  
    ';xp+,'}\  
    lf#5X)V  
    结果:线性偏振光的场追迹 Dg*'n  
    >~jl0!2z@  
    -+[~eqRB  
    lUd4`r"  
    文档和技术信息 8Y [4JXUK  
    l~mj>$  
    'm0_pM1:D  
    QL:Qzr[  
    Ffig0K+ `  
    QQ:2987619807 p ^ ONJL  
     
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