切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 579阅读
    • 0回复

    [分享]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4713
    光币
    17941
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2021-06-17
    摘要 }Z$G=;3#  
    8!`.%)- 4  
     8q[WfD  
    nZ+5@( *  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 92ww[+RQ@  
     3S|;yOl#X  
    建模任务  v2=!*  
    J9t?]9.,:  
     yacGJz^f=  
    ^dKaa  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ]~ eWr2uG?  
    mSw?iL  
     GoA>sK  
    w*kFtNBfU  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 gJ~*rWBK:  
    ij5=f0^4.  
     :q[n1 O[Ch  
    rd~W.b_b  
    文件信息 !td.ks0  
    9s6lt#?b  
     T.N7`  
    2j BE+k"M  
     Ywq+l]5/p  
    QQ：2987619807 h#;K9#x6  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表