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    [推荐]检查微型晶片的光学系统 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-10-16
    成像系统>包括光栅 &B7+>Ix,  
    !_z<W~t"  
    任务/系统说明 yH"$t/cU"R  
    `_g?y)  
    >-|90CSdSJ  
    U>B5LU9&  
    亮点 &~JfDe9IS  
    + yP[(b/  
     D7_Hu'y<o  
    IU'!?XVo  
     在复杂光学系统中，包含光栅（如，非常大的数值孔径(NA)） (zw=qbS&  
     严格分析光栅衍射效率 {Fp`l\,  
     考虑入射光的方向分布 `\4JwiPo  
    ]T3BDgu%&  
    说明：光源 )3`  
    u388Wj   
    L3=YlX`UL  
    LY88;*:S  
    说明：光束分束器 z1SMQLk  
    )<x;ra^  
    Aiks>Cyi23  
    400Tw`AiJ  
    说明：检测透镜系统 o )nT   
    oA3W {  
    .1z$ A  
    9>[.=  
    说明：微型晶片 o S:vTr+$  
    ekl? K~  
    R!V5-0%  
    peTO-x^a-  
    说明：检测物镜 U3|&Jee  
    C>`.J_N  
    w1"gl0ga$  
    :U-US|)(2  
    说明：探测器 ofPF}  
    T?]kF-   
    QC\g%MVG  
    \A3>c|  
    结果：3D光线追迹（只有0级） ej"o?1l@  
    }KaCf,O  
    ]g8i>,G  
    B )1<`nJA  
    结果：3D光线追迹（所有级） f?>-yMR|  
    @^:7UI_  
    5;K-,"UQ  
    BudWbZ5>Ep  
    结果：光线追迹 Ot2zhR )  
    ><#2O  
     CNpe8M=/3  
    uku}Mr"p  
    结果：场追迹 (Xr_ np @  
    %g]$Vfpy  
     M]4=(Vv+5  
    7{K i;1B[w  
    结果：线性偏振光的场追迹 L&DF,fWsF&  
    ].k+Nzf_  
    /XW&q)z-Hl  
     *b6I%MZn  
    文档和技术信息 ~3'OiIw1@  
    !HdvCYB>  
     O7'<I|aD  
    B \_d5WJ<  
     V &mH#k  
    QQ：2987619807 Mf ;|z0UX  
     
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