切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 光学手册（上、下册，李景镇） 光学元件微纳制造与精密检测技术 京东6.18购物红包，每天领三次！ 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 790阅读
    • 0回复

    [推荐]光学断层扫描干涉法 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    技术专家
     
    发帖
    4741
    光币
    18081
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2020-09-23
    摘要 pC'GKk 8  
    )pA N_e"  
    扫描干涉法是实现表面高度测量的技术。通过利用白色光源的低相干性，只有当光程差在相干长度内，干涉图案才会出现。因此，它使精确微观测量成为可能。使用一个氙灯搭建了一个迈克耳孙干涉仪，用于测量具有平滑变化前表面的样品。 ;Y>cegG\  
    (C EXPf  
     ^?)o,djY&  
    '9MtIcNb  
    建模任务 <H)I06];  
    UR&Uwa&.  
     l[q%1-N  
    yprf `D>  
    结果 &[hq !v  
    ,HFoy-Yq  
    9\]%N;;Lo  
    OyG$ ]C  
    文件信息 @P^8?!i+  
    nsJN)Pt  
     ;hOrLy&O  
    >}*i Qq  
     {{?[b^  
    QQ：2987619807 {1y-*@yU(  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表